XPS

Thermo Scientific ESCALAB 250Xi

X-ray source: monochromatic Al Kα X-rays

Espectroscopia de Raman

Witek Alpha-300R

Comprimento de onda do Laser: 532 nm e 633 nm

Microscópio de Força Atômica

Acessório para variação de temperatura com atmosfera controlada.

Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)

JEOL JSM 7100F

Electron source: Field Emission

Working voltage: 100 V to 30 kV

EDS Detector: SDD

STEM

Microscopia Eletrônica de transmissão (MET)

JEOL JEM 2100F

Electron source: Field Emission

Working voltage: 80 kV and 200kV

EDS Detector: SDD

STEM

HAADF detector

EELS

Analisador de Tensões

Stresstech Xstress3000 portable

Colimator of Ø 1.0 mm (30 kV and 6.7 mA)