Antes de submeter um projeto de utilização, ou fazer contato com um usuário sênior, deve-se verificar as características e condições das amostras:

Para análises de MEV:

1. Qual é o tamanho das amostras? Existe limitação de tamanho das amostras devido as dimensões da câmara.

2. A amostra é condutora ou isolante? Se a amostra for isolante, há necessidade de metalizá-la previamente.

3. A amostra libera gases ou vapores? Se este for o caso, não poderá ser analisada com o MEV.

4. A amostra é passível de dano ou modificação se submetida a alto vácuo? Se este for o caso, não poderá ser analisada.

5. Se a amostra libera facilmente material pulverulento não é poderá ser análisada.

6. Qual o aumento pretendido? Se for inferior a 5 mil vezes, sugerimos a utilização de um MEV com fonte de elétrons a filamento.

Amostras para análise em MEV têm que ser:

• Limpas
• Secas
• Condutoras

Para amostras de MET:

• A sua amostra tem que ter espessura inferior a 100 nm, para permitir a passagem do feixe de elétrons.
• A amostra tem que ser estável quando submetida ao feixe de elétrons com energia de 200 keV, em condições de ultra alto vácuo.
• As dimensões das amostras devem ser compatíveis com o suporte de amostras do MET (i.e. diâmetro < 3 mm)
• Idealmente, a microestrutura da amostra não deve ser afetada no processo de preparação das amostras.

Os critérios de seleção das propostas de pesquisa são os seguintes:

• Coerência e relevância do projeto de pesquisa;
• Compatibilidade entre a proposta de pesquisa e as características do equipamento proposto, devendo-se dar prioridade aos projetos que demandarem o desempenho específico proporcionado por cada equipamento;
• Efetivo enquadramento da proposta no campo das nanociências ou nanotecnologia;
• Produtividade do proponente.